近日,2019年度國家航空科學基金項目評審結(jié)果公布,上海院機械制造所雷李華博士申報的“大范圍表面形貌測量白光場掃描技術(shù)研究”獲立項資助,這是該院首次獲批國家航空科學基金實驗室類項目。
國家航空科學基金創(chuàng)立于1985年,是航空工業(yè)開展基礎(chǔ)研究的主渠道之一,主要用于開展裝備預研航空工業(yè)聯(lián)合基金中的基礎(chǔ)研究類項目,重點資助對航空技術(shù)和武器裝備發(fā)展具有應用前景或潛在應用前景的基礎(chǔ)研究和應用基礎(chǔ)研究。
“大范圍表面形貌測量白光場掃描技術(shù)研究”項目基于已有的傳統(tǒng)白光干涉測量裝置,著重研究雙角度白光傾斜掃描干涉術(shù)、自適應變速掃描技術(shù)和單幅圖像白光干涉分析中的關(guān)鍵理論問題,建立掃描過程模型,解決掃描過程中表面數(shù)據(jù)點的精確追蹤問題,突破傳統(tǒng)垂直白光掃描技術(shù)的橫向測量視場范圍的限制,提高大尺寸表面形貌的快速測量與重構(gòu)能力,可解決航空航天、納米制造等產(chǎn)業(yè)測量中的大范圍、高精度測量需求,有利于促進航空科學技術(shù)的發(fā)展和進步。