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影響高壓標(biāo)準(zhǔn)介損準(zhǔn)確度的因素與修正方法

發(fā)布時(shí)間:2008-10-07 作者:韓貴勝 李春峰 來源:www.jlbjb.com 瀏覽:1954

河北省保定天威保變電氣股份有限公司檢驗(yàn)處計(jì)量室 韓貴勝 李春峰


  高壓標(biāo)準(zhǔn)介損的用途,主要用來對(duì)高壓介損電橋的準(zhǔn)確度進(jìn)行考察并提出可行性的修正方法。根據(jù)多年的使用經(jīng)驗(yàn)和研究分析,結(jié)合本廠實(shí)際情況對(duì)影響高壓標(biāo)準(zhǔn)介損準(zhǔn)確度的因素與修正方法介紹如下。    

  一、影響高壓標(biāo)準(zhǔn)介損準(zhǔn)確度的主要因素

  1.高壓標(biāo)準(zhǔn)電容本身的準(zhǔn)確度;
  2.精密電阻的影響;
  3.跨接電纜電容的存在對(duì)其準(zhǔn)確度的影響;
  4.測試頻率的影響;
  5.測試接線電阻對(duì)其準(zhǔn)確度的影響。    

  二、修正方法

  1.由于高壓標(biāo)準(zhǔn)電容采用了高介電常數(shù),較高穩(wěn)定性的純凈SF6氣體作為介質(zhì)。一旦制成,其容量基本是固定的,而且其介損值幾乎接近于零,非常穩(wěn)定。這些器件的固有參數(shù)無法改變。因此,此項(xiàng)對(duì)于提高高壓介損的準(zhǔn)確度是無濟(jì)于事的。

  2.在電阻元件的選取上,應(yīng)該考慮經(jīng)嚴(yán)格老化試驗(yàn)篩選且準(zhǔn)確度高、性能穩(wěn)定的無感精密電阻。由于高壓標(biāo)準(zhǔn)介損箱的結(jié)構(gòu)就是一個(gè)阻容串聯(lián),加上抗干擾的屏蔽結(jié)構(gòu),因此,電阻元件的基本要求必須得到滿足。其準(zhǔn)確度對(duì)高壓標(biāo)準(zhǔn)介損的準(zhǔn)確度的影響占有一定的主導(dǎo)地位,不容忽視。

  3.由于設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)上的要求和考慮,高壓標(biāo)準(zhǔn)介損箱在阻容介損的輸出端與被校試品之間存在著同軸75歐姆阻抗的跨接電纜。但是跨接電纜存在電纜電容,而且與其長度有著直接的正比例關(guān)系。如果在設(shè)計(jì)時(shí)僅考慮高壓標(biāo)準(zhǔn)電容,而忽略電纜電容的存在,將對(duì)該高壓標(biāo)準(zhǔn)介損箱的準(zhǔn)確度有較大影響。該電纜電容的存在對(duì)于整個(gè)RC電路而言,有著一定的移相作用,影響和改變了損耗角的大小,進(jìn)而影響到高壓標(biāo)準(zhǔn)介損值(損耗角的正切值)的輸出準(zhǔn)確度。因此,該跨接電纜的長度應(yīng)盡量縮短。

  4.由于高壓標(biāo)準(zhǔn)介損輸出的標(biāo)準(zhǔn)值是在一定的頻率(通常是50Hz)條件下進(jìn)行設(shè)計(jì)計(jì)算的。如果測量或校正時(shí),頻率偏移50Hz較多就必須加以修正。具體修正方法為:
  tanδX=(f/f0)×tanδ
  式中f0=50Hz,f為測量時(shí)的頻率值,tanδX為頻率修正后的介損值,tanδ被試品的實(shí)際測量值。

  除以上因素外,還有連接導(dǎo)線及橋體引起的介損。tanδX值在測量時(shí)實(shí)際上除了高壓介損電橋的測量值、其內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)電容器介質(zhì)損耗角的正切值(tanδN)外,還包括-CXω(R1+R2)一項(xiàng)。
  即:tanδX=tanδ橋+tanδN-CXω·(R1+R2),但是該項(xiàng)中CX為被測電容值,R1與R2是被試品高壓端和低壓端的引線電阻。一般情況下,在測量小電容時(shí)R1、R2可以忽略。

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