為隆重紀(jì)念米定義40周年，8月16至18日，中國計量測試學(xué)會幾何量專業(yè)委員會技術(shù)學(xué)術(shù)交流會暨換屆工作會在云南大理順利召開。

中國科學(xué)院院士王立鼎，中國計量測試學(xué)會相關(guān)領(lǐng)導(dǎo)，中國計量科學(xué)研究院（以下簡稱“中國計量院”）相關(guān)部門負(fù)責(zé)人以及來自全國計量機構(gòu)、高等院校、科研院所和企業(yè)的160多名代表參加會議。

幾何量專業(yè)委員會秘書長、中國計量院研究員李建雙主持會議開幕式。王立鼎院士在開幕式致辭中結(jié)合自身工作經(jīng)歷，總結(jié)了幾何量技術(shù)在先進制造領(lǐng)域的發(fā)展與作用，勉勵科技工作者瞄準(zhǔn)國家戰(zhàn)略需求，潛心鉆研，為促進幾何量科技發(fā)展作出貢獻。

王立鼎院士致辭

第七屆幾何量專業(yè)委員會主任委員、中國計量院研究員高思田在致辭中回顧了米定義40年來幾何量領(lǐng)域技術(shù)學(xué)術(shù)取得的長足發(fā)展，展望了幾何量計量新技術(shù)的發(fā)展趨勢，希望參會代表們踴躍交流、深入探討、有所收獲。

在學(xué)術(shù)交流環(huán)節(jié)，中國計量院研究員吳金杰以“從米制到米智——米定義演進與智能化”為題作紀(jì)念米定義40周年主題報告。他回溯了“米制”前的長度單位演變、米制的建立與演進、我國在米定義方面的貢獻及我國米基準(zhǔn)、幾何量計量基標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)展歷程。報告提出，應(yīng)加強“米”的扁平化、數(shù)字化、智能化和網(wǎng)絡(luò)化研究，使其與產(chǎn)業(yè)深度融合，推動幾何量計量從“米制”向“米智”發(fā)展。

來自中國計量院、西安交通大學(xué)、中國科學(xué)院微電子研究所、天津大學(xué)、上海理工大學(xué)、浙江理工大學(xué)、中國航空工業(yè)集團北京長城計量測試技術(shù)研究所等單位的代表，分別從米定義復(fù)現(xiàn)方法、納米探針、集成電路檢測、光學(xué)顯微干涉、光學(xué)陀螺測角、大尺寸絕對測距、線紋測量及光學(xué)掃描測量等方向進行了系列報告。

會議現(xiàn)場學(xué)術(shù)氛圍濃厚，報告內(nèi)容豐富。與會代表提問互動熱烈，就涉及的幾何量計量測試技術(shù)展開了廣泛熱烈的討論。

會議選舉產(chǎn)生了第八屆幾何量專業(yè)委員會主任委員、副主任委員、秘書長等。此次大會由中國計量測試學(xué)會幾何量專業(yè)委員會主辦，云南省計量測試技術(shù)研究院承辦。（文/圖：李建雙、繆東晶）